Mulyadi, Indra HardiyanKusumawati, Diyah2024-12-302024-09-17APAhttp://103.209.1.147:4000/handle/PL029/2721Abstrack Artikel, pengesahan & publikasiPengukuran Leakage Current dan RDS pada Infrared Detector Pengukuran merupakan salah satu proses yang sangat penting di dalam dunia industri dan wajib dimiliki oleh perusahaan. Pengukuran dilakukan oleh Manufacturing Quality System (MQS) untuk mendapat nilai dai suatu product Infrared Detector (IR Detector). Salah satu komponen IR Detector yang menghantarkan arus yaitu Junction Field Effect Transistor (JFET). Penelitian ini bertujuan untuk menjadikan visual studio sebagai pengembangan dari aplikasi dengan menggunakan bahasa pemrograman C# dapat menampilkan data dari elektrometer dalam bentuk grafik dan angka. Pengukuran ini dilakukan dengan menggunakan elektrometer Keithley 6517A sebagai alat ukur. Dalam pengukuran ini dapat dilakukan pengambilan data sebanyak 5 pcs untuk setiap 1 pcs pengukuran membutuhkan waktu selama 10 detik dalam sekali pengukuran. Dengan menggunakan modul yang tertutup dan memanfaatkan Relay sebagai pengendali antar socket dan Arduino UNO sebagai mikrokontroler dalam pengembangan prototipe. Cara kerja dari alat ini adalah loading IR Detector ke socket selanjutnya elektrometer akan melakukan pengukuran nilai dari Leakage Current dan Resistance Drain and Source (RDS) dari IR Detector 1 sampai IR Detector 5. Selanjutnya data dari elektrometer akan tampil pada serial monitor di C# dan akan menampilkan grafik untuk Leakage Current dan menampilkan angka untuk RDS. Untuk pengukuran dalam jumlah yang banyak, data dari pengukuran ini dapat disimpan di database mySQL. Data dari pengukuran bisa langsung di generate ke MS.excel untuk mempermudah dalam analisa. Sistem yang dibuat ini akan membantu engineer dalam melakukan failure analysis yang tepat sasaran. Kata kunci: Arus Bocor, RDS, C#otherTECHNOLOGYPengukuran Leakage Current dan RDS pada Infrared DetectorArticleNIM4212131017 / NIDN0019088207KODEPRODI21312#TEKNIK MEKATRONIKA