Pengaruh Tekanan Sealing Turbin Terhadap Kevakuman Kondensor Pada Turbin Uap Unit 4 PLTU PT Bintan Alumina Indonesia

Repository Analytics

Statistic Details

Updated data
20Viewes
0Downloaded
20Accessed per month
2Countries

Abstract

PLTU PT Bintan Alumina Indonesia (PT BAI) Unit 4 menunjukkan karakteristik operasi berbeda dari unit sejenis, karena kevakuman kondensornya sensitif terhadap perubahan tekanan sealing turbin. Sebagai kontribusi dan kebaruan utama, penelitian ini secara spesifik mengidentifikasi rentang tekanan sealing optimal untuk Unit 4 yang memiliki karakteristik operasi unik tersebut, sebuah pendekatan yang belum banyak dibahas pada kajian unit sejenis. Penelitian ini bertujuan mengevaluasi korelasi antara tekanan sealing dan kevakuman kondensor, menetapkan rentang tekanan sealing optimal untuk mempertahankan target vakum −94 hingga −95 kPa, serta memetakan pola fluktuasinya. Pendekatan kuantitatif diterapkan menggunakan 32 titik data mingguan (kelompok maksimum dan minimum) yang direkam Distributed Control System pada beban turbin 14–15 MW selama Agustus–November 2025. Data diolah melalui perhitungan rata-rata, korelasi Pearson, regresi linear sederhana, dan koefisien determinasi menggunakan Microsoft Excel. Hasil menunjukkan korelasi Pearson r=−0,8395 (sangat kuat, negatif) dengan R²=0,7048, serta persamaan regresi ŷ=−0,3853x−79,8294. Berdasarkan persamaan tersebut, rentang tekanan sealing optimal adalah 36,77–39,37 kPa, dengan rata-rata aktual sebesar 37,16 kPa berada di dalam rentang tersebut. Kajian tambahan terhadap spesifikasi desain pabrikan turbin (tekanan buang 6,1 kPa absolut) menunjukkan kesesuaian konseptual dengan target vakum operasional, meskipun konversi ini masih mengasumsikan tekanan atmosfer standar karena keterbatasan data barometrik aktual di lokasi. Penelitian ini menyimpulkan bahwa tekanan sealing berpengaruh signifikan terhadap kevakuman kondensor sehingga pengaturan setpoint pada rentang tersebut direkomendasikan untuk menjaga efisiensi operasional PLTU.

Description

Citation

IEEE

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By