ANALISIS PENGARUH PROSES PENGELASAN DAN SETELAH PROSES PENGELASAN TERHADAP LEVEL STRUKTUR

Repository Politeknik Negeri Batam

Date

2024-07-05

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Abstract

Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui pengaruh proses pengelasan terhadap level dari suatu stuktur yang di fabrikasikan. Strruktur ini merupakan struktur skidway yang dirancang agar dapat menahan beban yang berada di atas nya. Oleh karena itu struktur skidway harus dibuat dengan baik agar menghasilkan stuktur skidway yang memiliki level yang baik sehingga dapat menahan beban dari platform secara maksimal. Dengan melakukan pengambilan level ketika dilakukannya proses pengelasan dan setelah pengelasan dapat meminimalisir agar level struktur tetap baik selama proses fabrikasi. Pengambilan data level struktur ketika proses pengelasan terjadi pada progress pengelasan struktur secara keseluruhan berada di angka 65% hal itu dikarenakan meeting bersama client yang menghasilkan keputusan dengan nilai progress 65% akan di lakukannya pengambilan nilai dari level struktur agar mengetahui pengaruh dari proses pengelasan yang telah berlangsung terhadap level dari struktur skidway tersebut hal ini dilakukan agar dapat dilakukan pencegahan ketika pada proses ini terdapat struktur yang memiliki level yang tidak baik. Adapun pengambilan data level struktur yang selanjutnya dilakukan ketika progress pengelasan secara keseluruhan berada di angka 100% pada progress ini dapat mengetahui hasil final dari level struktur yang telah di lakukan pengelasan secara keseluruhan dan mengetahui apakah pencegahan yang dilakukan ketika proses pengelasan yang dilakukan berjalan dengan baik sehingga menciptakan nilai level struktur yang baik. Metode pengelasan adalah salah satu point yang mempengaruhi level dari struktur skidway hal itu dikarenakan pada proses ini penggunaan metode pengelasan fcaw dan smaw mempengaruhi dari kekuatan tarik yang dihasilkan dari proses pengelasan sehingga dapat mengakibatkan perubahan bentuk dan dimensi (distorsi)[

Description

Keywords

Citation

IEEE

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By